HDPN-U320の分解

Android x86評価用のNetbookのハードディスクが認識しなくなってしまった。
評価用なので、容量は割りとどうでもいい。

近隣のお店を調べたが、バルクドライブは数も少なく、金額も高すぎ。
120G WD 6790円とか、250G WD 8980円、250G ST 7980円とかい感じ。
500Gだと9k円くらいになってしまう。
この前、MacBook用の750G買ったときには7.5k円くらいだったのに。
タイ洪水の影響恐るべし。


やってられないので、外付けUSBドライブの格安のをバラしてドライブ取ることにした。
リサーチで一番安かったジョーシンで、6k円のHDPN-U320買ってきちゃった。
中身はSamsungだろうけど、この際、背に腹はかえられない(^^;。
ガワのデザインは最悪なので、再利用にも困るが。
お店で、オーダー用の紙ペラなくて焦ったけど、最後の１つありました。
U500はいっぱいあったけど、9k円は高すぎ。


とりあえず、Winにつないで動作確認。
正常に認識。
なんかautorun.infあるよ。
中見たら、アイコン指定しているだけだった。

[autorun]
ICON=HDPNICON.DLL


一回フルライトするのも、USBからだと遅いので、さっそくバラす。
https://lh5.googleusercontent.com/-fzoZH6FqeRQ/TxT6wLxwjBI/AAAAAAAAB4M/206rg_SAa5c/s640/16%252520-%25252010.jpg
ゴム足２つの下にネジがある。
これを外す。
https://lh5.googleusercontent.com/-NAj0rKJgoG8/TxT6u0px51I/AAAAAAAAB40/bz9fIGEJIkc/s512/16%252520-%2525204.jpg
本体は５箇所の爪でロックされている。
爪のないUSBコネクタ側を開く。
https://lh4.googleusercontent.com/-pNMWH0jMBKU/TxT6us999BI/AAAAAAAAB4k/ggOKUvIrba4/s512/16%252520-%2525202.jpg
突起のない長辺側と、タブ部の爪はすぐに外れる。
https://lh6.googleusercontent.com/-3TnxX-f-1-Y/TxT6vkH3aWI/AAAAAAAAB5g/L2_hBQsq6kc/s512/16%252520-%2525209.jpg
残りの２つは外れにくい。
本体側面に穴が２つあるので、そこにクリップなどを押し込むと外れる。
https://lh3.googleusercontent.com/-J05doYqfABU/TxT6viOclOI/AAAAAAAAB5Y/3qRkmJaG6kQ/s512/16%252520-%2525208.jpg
ドライブと基板は一体化していて、四隅のゴムで宙に浮いている構造。
https://lh3.googleusercontent.com/-Y_De_PKbObU/TxT6vVJxeYI/AAAAAAAAB5Q/ZsHjE8q2k0g/s512/16%252520-%2525207.jpg
https://lh3.googleusercontent.com/-S7CGA0PiULU/TxT6vZ9t4ZI/AAAAAAAAB5I/JkzCaVPzkF0/s720/16%252520-%2525206.jpg
ドライブは予想通りSamsungだった。
ガッカリ。
https://lh5.googleusercontent.com/-ReT0nvJzCp8/TxT6vK6sJJI/AAAAAAAAB5A/6jv2vuSTC1M/s720/16%252520-%2525205.jpg
ネジ２本とSATAコネクタで基板が取り付けられているので外す。
https://lh5.googleusercontent.com/-tUDggJtIQik/TxT6umTq-KI/AAAAAAAAB4s/Bnj6inkgUY0/s720/16%252520-%2525203.jpg
基板の拡大。
https://lh5.googleusercontent.com/-3ISP3yNfLm4/TxT6ueBfKVI/AAAAAAAAB4c/sw2PzV2VCrw/s720/16%252520-%2525201.jpg


外したドライブはeSATAコンバータにつなげて、ddでゼロ書き。
時間かかるな... orz
半日かかってしまつたよ。
複数のパーティションでミラー組んでやったら速かったかな？


S.M.A.R.T.を調べる。
まずパッケージのインストール。

# apt-get install smartmontools

んで、ロングテスト。

# smartctl -t long /dev/sdc
smartctl 5.40 2010-07-12 r3124 [x86_64-unknown-linux-gnu] (local build)
Copyright (C) 2002-10 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net

=== START OF OFFLINE IMMEDIATE AND SELF-TEST SECTION ===
Sending command: "Execute SMART Extended self-test routine immediately in off-line mode".
Drive command "Execute SMART Extended self-test routine immediately in off-line mode" successful.
Testing has begun.
Please wait 84 minutes for test to complete.
Test will complete after Tue Jan 17 19:35:30 2012

Use smartctl -X to abort test.
# smartctl -X /dev/sdc
smartctl 5.40 2010-07-12 r3124 [x86_64-unknown-linux-gnu] (local build)
Copyright (C) 2002-10 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net

=== START OF OFFLINE IMMEDIATE AND SELF-TEST SECTION ===
Sending command: "Abort SMART off-line mode self-test routine".
Self-testing aborted!

うわ、そんなに待てない。中断。
ショートテスト。

# smartctl -t short /dev/sdc
smartctl 5.40 2010-07-12 r3124 [x86_64-unknown-linux-gnu] (local build)
Copyright (C) 2002-10 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net

=== START OF OFFLINE IMMEDIATE AND SELF-TEST SECTION ===
Sending command: "Execute SMART Short self-test routine immediately in off-line mode".
Drive command "Execute SMART Short self-test routine immediately in off-line mode" successful.
Testing has begun.
Please wait 2 minutes for test to complete.
Test will complete after Tue Jan 17 18:14:29 2012

Use smartctl -X to abort test.

ステイタスを全て表示。

# smartctl -a -d ata /dev/sdc
smartctl 5.40 2010-07-12 r3124 [x86_64-unknown-linux-gnu] (local build)
Copyright (C) 2002-10 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model: SAMSUNG HM321HI
Serial Number: S277JDQZ701537
Firmware Version: 2AJ10001
User Capacity: 320,072,933,376 bytes
Device is: Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is: 8
ATA Standard is: ATA-8-ACS revision 6
Local Time is: Tue Jan 17 18:14:31 2012 JST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: (5040) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 84) minutes.
SCT capabilities: (0x003f) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 051 Pre-fail Always - 0
2 Throughput_Performance 0x0026 252 252 000 Old_age Always - 0
3 Spin_Up_Time 0x0023 092 092 025 Pre-fail Always - 2493
4 Start_Stop_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 7
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 252 252 010 Pre-fail Always - 0
7 Seek_Error_Rate 0x002e 252 252 051 Old_age Always - 0
8 Seek_Time_Performance 0x0024 252 252 015 Old_age Offline - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 4
10 Spin_Retry_Count 0x0032 252 252 051 Old_age Always - 0
11 Calibration_Retry_Count 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 7
191 G-Sense_Error_Rate 0x0022 252 252 000 Old_age Always - 0
192 Power-Off_Retract_Count 0x0022 252 252 000 Old_age Always - 0
194 Temperature_Celsius 0x0002 057 057 000 Old_age Always - 43 (Lifetime Min/Max 29/44)
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 000 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 252 252 000 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0036 100 100 000 Old_age Always - 1
200 Multi_Zone_Error_Rate 0x002a 100 100 000 Old_age Always - 0
223 Load_Retry_Count 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0
225 Load_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 22

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 4 -
# 2 Extended offline Aborted by host 90% 4 -

Note: selective self-test log revision number (0) not 1 implies that no selective self-test has ever been run
SMART Selective self-test log data structure revision number 0
Note: revision number not 1 implies that no selective self-test has ever been run
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Completed [00% left] (0-65535)
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

あぶないのは、このあたり。

  • Reallocated_Sector_Ct：代替えセクタ数
  • Reallocated_Event_Count：不良セクタからのデータ移動回数
  • Current_Pending_Sector：読み書き不安定なセクタ数
  • Offline_Uncorrectable：修復不能な書き込みエラー数

# smartctl -a -d ata /dev/sdc | grep Reallocated_Sector_Ct
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 252 252 010 Pre-fail Always - 0
# smartctl -a -d ata /dev/sdc | grep Reallocated_Event_Count
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0
# smartctl -a -d ata /dev/sdc | grep Current_Pending_Sector
197 Current_Pending_Sector 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0
# smartctl -a -d ata /dev/sdc | grep Offline_Uncorrectable
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 252 252 000 Old_age Offline - 0

異常ないようだ。


あとは、３日ほど、ランダムアクセスのエイジングしたらいいのだけど、今回はパス。